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氮流量比对磁控溅射(CoCrFeNi)Nx高熵合金薄膜的组织和性能的影响

刘晓东; 谈淑咏; 霍文燚; 张旭海; 邵起越; 方峰 东南大学江苏省先进金属材料高技术研究重点实验室; 南京211189; 南京工程学院材料工程学院; 南京211167
  • 材料表面与界面
  • 磁控溅射
  • 硬度
  • 电阻率
  • 磁性能

摘要:采用直流磁控溅射法制备(CoCrFeNi)Nx高熵薄膜,研究了氮流量比对薄膜的力学性能和电磁性能的影响。结果表明,在不同氮流量比条件下制备的(CoCrFeNi)Nx薄膜,都具有致密的组织、简单的FCC结构并呈现(200)择优取向。随着氮流量比从10%提高到30%,薄膜的硬度和弹性模量随之增大,其最大值达到14 GPa和212 GPa;电阻率基本上呈增大的趋势,最大值达到138μΩ·cm;饱和磁化强度和磁导率随之减小,薄膜饱和磁化强度最高为427.43 emu/cm^3。薄膜的矫顽力约为0。

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